在追求精度與效率的工業(yè)與科研領域，TOPCON拓普康的二維光譜輻射計將復雜的光學特性化為直觀、可靠的數(shù)據(jù)，成為現(xiàn)代光學測量的利器。

在現(xiàn)代顯示技術、照明工程及光學材料研發(fā)中，對光源和物體表面光學特性的精確測量變得日益重要。TOPCON拓普康的二維光譜輻射計，正是為滿足這一需求而生的測量儀器。

與傳統(tǒng)單點測量設備不同，二維光譜輻射計能夠同時獲取整個被測面的光譜數(shù)據(jù)，實現(xiàn)更全面、高效的分析。

01 產品系列與架構：二維測量的技術革新

TOPCON拓普康二維光譜輻射計產品線豐富，主要包含SR-5000/5000H、SR-5100等多個型號，滿足不同場景下的測量需求。

SR-5000系列具有140萬像素彩色CCD圖像傳感器，有功像素達1376×1024，數(shù)據(jù)位為14bit，能夠捕捉細致的光學信息。

而SR-5100則進一步升級至500萬像素(2448×2048)的高分辨率，實現(xiàn)了更高精度的二維分光測量。

這些儀器采用非破壞、非接觸的測量方式，可同時對500萬點進行分光測量，準確分析光源的光譜特性、材料分光穿透率及物體的分光反射率特性。

02 核心技術特點：精準測量的基石

TOPCON拓普康二維光譜輻射計融合了多項技術，確保其在光學測量領域的地位。

高精度分光測量是這些儀器的核心能力。SR-5000系列采用1nm的分光測光方式，波長精度達±0.5nm (Hg波寬線上、高精度模式時)，光譜波寬為7nm(半波寬)。

寬廣的測量范圍是另一大亮點。SR-5000的測定范圍覆蓋0.5 - 5,000,000 cd/m2。而SR-5100更進一步，將測量量程提升至170億cd/m2的高亮度范圍。

在光學系統(tǒng)設計上，SR-5000標準配置f=32mm對物鏡，搭配廣角輔助鏡時可達到f=24mm。SR-5100則支持分光及XYZ兩種測量模式，可根據(jù)需要發(fā)揮高精度或高速測量的優(yōu)勢。

的線性與重復性能確保測量結果的可靠性。SR-5000在亮度測量上的線性度為±2%以內，重復精度為0.5%以下。

03 應用領域：多行業(yè)的光學測量解決方案

TOPCON拓普康二維光譜輻射計的應用范圍廣泛，覆蓋多個行業(yè)的光學測量需求。

在顯示技術領域，它們可用于LCD及關聯(lián)材料、OLED等的亮度、色度MURA(不均勻性)、分光光譜評價。對于快速發(fā)展的Micro/Mini LED顯示屏及相關材料，也能進行精確的光學特性評估。

汽車產業(yè)同樣受益于這類儀器，可用于汽車的儀表板及內外裝照明的分光分布特性、分光光譜評價。

LED照明、OLED照明的發(fā)光部的亮度、色度MURA、分光光譜評價也是其重要應用場景。

在材料科學和紡織領域，SR-5100可用于纖維染織物的分光光譜評價，以及光學膜及涂層的不均勻、干涉條紋的測量。

醫(yī)療和生物領域，SR-5100HM與顯微鏡結合，可用于病理組織的染色狀態(tài)的些微差異的解析及量化評價測量。

04 創(chuàng)新價值與未來展望

TOPCON拓普康二維光譜輻射計不僅僅是一種測量工具，更是推動多個行業(yè)技術進步的催化劑。

其二維分光測量能力使研究人員和工程師能夠直觀看到整個被測面的光學特性分布，識別單點測量難以發(fā)現(xiàn)的不均勻性和缺陷。

隨著顯示技術和照明行業(yè)的快速發(fā)展，對測量儀器提出了更高要求。TOPCON拓普康通過SR-5100等新型號的產品，不斷拓展測量極限，滿足日益增長的高精度、高效率測量需求。

此外，近紅外分光輻射計SR-NIR的推出，使測量波長范圍擴展到380nm-1030nm，滿足了顯示器及照明市場對“近紅外領域"日益增長的測定需求。

TOPCON拓普康的二維光譜輻射計，猶如科學家長了“火眼金睛"，讓細微的光譜差異無所遁形。從實驗室研究到工業(yè)生產，這些儀器正在幫助人類揭開光的神秘面紗。

隨著技術的不斷進步，我們可以期待TOPCON拓普康帶來更先進、更精準的光學測量解決方案，繼續(xù)點亮人類探索光學世界的道路。