日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

簡(jiǎn)要描述：

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡 TM4000II維翰光電
日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

特點(diǎn)
觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

產(chǎn)品型號(hào)：TM4000II
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-08-08
訪問(wèn) 量：415

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HITACHI日立

電子顯微鏡原子力顯微鏡高效液相色譜儀紫外分光光度計(jì) 原子吸收光度計(jì) 熒光分光光度計(jì)

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詳細(xì)介紹

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

特點(diǎn)

觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

觀察與分析的靈活性

自動(dòng)獲取各類數(shù)據(jù)?？焖偾袚Q！

可快速獲得元素分布圖 *2

*1TM4000PlusⅡ的功能。

*2選配

使用Camera Navi*的話，就是如此簡(jiǎn)單

Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察

*選配：Camera Navi系統(tǒng)

操作簡(jiǎn)單且快捷

觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像，并導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告。.

Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告

只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告

即便是絕緣物樣品，也無(wú)需預(yù)處理，就可直接進(jìn)行觀察。

“荷電減輕模式"可抑制荷電現(xiàn)象

對(duì)于容易產(chǎn)生荷電的樣品，可使用“荷電減輕模式"，在抑制荷電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。
只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“荷電減輕模式"。

可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察

對(duì)于容易產(chǎn)生荷電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。

可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察。

無(wú)需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品，還可以在無(wú)預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品?？煽焖龠M(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

高感度低真空二次電子檢測(cè)器

采用高感度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)。通過(guò)檢測(cè)由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過(guò)控制該檢測(cè)器，來(lái)檢測(cè)電子照射所產(chǎn)生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

高感度低真空二次電子檢測(cè)器的檢測(cè)原理

可支持加速電壓20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配），可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。

通過(guò)加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化

Multi Zigzag（選配）

可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。
搭配自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。

非常簡(jiǎn)單的 EDX 分析

面分析

譜峰分析

線分析

EM 樣品臺(tái)（選配）

可輕松觀察 STEM 圖像

與全新開(kāi)發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。

可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。

*UVD為 TM4000Plus II上的配件。

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

樣品：研磨劑

加速電壓：20 kV

觀察信號(hào)：(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像

放大倍率：10000 倍

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

樣品：老鼠腎臟

加速電壓：15 kV

觀察信號(hào)： STEM 圖像

放大倍率：1000倍

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡維翰光電

樣品：老鼠肝臟

加速電壓：15 kV

觀察信號(hào)： STEM 圖像

倍率：5000倍

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日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡 TM4000II維翰光電日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡 維翰光電特點(diǎn)觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

特點(diǎn)

觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

觀察與分析的靈活性

使用Camera Navi*的話，就是如此簡(jiǎn)單

操作簡(jiǎn)單且快捷

Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告

即便是絕緣物樣品，也無(wú)需預(yù)處理，就可直接進(jìn)行觀察。

“荷電減輕模式"可抑制荷電現(xiàn)象

可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察

可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察。

無(wú)需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

高感度低真空二次電子檢測(cè)器

可支持加速電壓20 kV

通過(guò)加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化

Multi Zigzag（選配）

非常簡(jiǎn)單的 EDX 分析

面分析

譜峰分析

線分析

EM 樣品臺(tái)（選配）

可輕松觀察 STEM 圖像

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觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

使用Camera Navi*的話，就是如此簡(jiǎn)單

即便是絕緣物樣品，也無(wú)需預(yù)處理，就可直接進(jìn)行觀察。

可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察。

無(wú)需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

通過(guò)加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化