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日立 Regulus8240超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡$n日立 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡$n特點(diǎn)：$n沿用“SU8200系列“的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍*2$n采用電子束在Flashing后出現(xiàn)的高亮度穩(wěn)定區(qū)域作為穩(wěn)定觀察的區(qū)間，使得低加速電壓條件下兼?zhèn)涓叻直嬗^察和分析的優(yōu)良性能$n(Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)

日立 HF5000 電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡 日立電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡 特點(diǎn) 標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動(dòng)校正功能） 搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場(chǎng)FE電子槍 鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像 采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)以及樣品桿 支持高立體角EDX*的對(duì)稱配置（對(duì)稱Dual SDD*） 采用全新構(gòu)

日立 HD-2700 球差校正掃描透射電子顯微鏡 日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 發(fā)射球差校正掃描透射電鏡,相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球差對(duì)分辨率的影響,從而可以實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察.

日立高反差型透射HT7800電子顯微鏡 日立高反差型透射電子顯微鏡 特點(diǎn) 日立的雙隙物鏡設(shè)計(jì)，支持低倍率下的大視野高反差觀察與高分辨率觀察 憑借在明亮環(huán)境中的數(shù)字化操作環(huán)境和各種自動(dòng)功能，從初學(xué)者到熟練者均可操作 通過(guò)全新設(shè)計(jì)的“Image Navigation“功能，可輕松搜尋視野和拍攝圖像 配備全自動(dòng)圖像拼接功能、三維重構(gòu)、STEM和EDX等選配項(xiàng)，支持多種用途 通過(guò)選擇高分辨率透鏡，實(shí)現(xiàn)

日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡 TM4000II維翰光電 日立臺(tái)式掃描電子顯微鏡 維翰光電 特點(diǎn) 觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

HITACHI日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II維翰光電 HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電 特點(diǎn) FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡

日立SU9000冷場(chǎng)電鏡超高分辨率冷場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡 日立冷場(chǎng)電鏡超高分辨率冷場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡 產(chǎn)品介紹： 專門為電子束敏感樣品和需最大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。

日立SU8700發(fā)射掃描電子顯微鏡 進(jìn)口超高分辨電鏡 日立發(fā)射掃描電子顯微鏡 進(jìn)口超高分辨電鏡 特點(diǎn) 超高分辨觀察和強(qiáng)分析能力